平板表面质量的检测水平影响了以手机为核心的移动产业链的发展，针对光学显示平板尺寸大、划痕小且位置不确定、要求检测时间短的难题，本项目以检测大尺寸显示平板上的划痕或微观瑕疵为目的，旨在探索线型光源下的彩色共焦测量技术。通过本项目的研究，为产生稳定的线型光源、线型光彩色共焦技术用于平面形貌测量、快速化彩色共焦图像处理技术等提供借鉴。本项目将光、机、电等领域的相关技术有机地结合在一起，充分发挥各自的优势，并借助对机械结构及高精度驱动的研究，建立较完备的检测系统及装置，获得较高的整体综合性能。 项目的技术内容包括：（1）彩色共焦技术研究；（2）基于DMD的高质量线型光源控制及产生方法研究；（3）线型光彩色共焦实验台及快速化图像处理方法研究；（4）DMD线型光扫描策略设计及检测装置的构建。

    预期技术指标：（1）提出可实现大尺寸高精度快速化显示平板表面质量检测的方案； （2）设计和建立能实现上述检测方案的系统及装置，拟实现以下技术指标： ①检测时间小于或等于15s； ②对5〃及以上尺寸显示平板上的划痕或瑕疵定位、并测量其深度；③检测划痕或瑕疵深度的测量精度优于2μm； ④友好的人机交互界面，可视化操作，智能化测量。

    已申请国家专利技术包括：ZL201320526953.2 基于数字微镜器件的跨尺度测量装置；  ZL201420223108.2 一种基于数字微镜器件的匀光系统； CN201310378749 基于数字微镜器件的跨尺度测量方法；  CN201410161577 一种柔性表面形貌快速提取方法； CN201410183857 一种基于数字微镜器件的匀光系统。