本公司通过新型光谱分析方法研制成功配套的光谱仪和仿真分析软件，在国际上首次将“一维光谱”展开成“二维光谱”，可表征薄膜不同深度的组分分布、凝聚态结构、光学分布、电荷局域态密度的空间和能量分布（精度1nm），为器件中电荷分布及电荷输运提供了直接的实验证据。本公司已推出原位紫外可见断层光谱仪、原位红外断层光谱仪及可用于监测薄膜形成和变化的原位动态吸收光谱仪等系列产品，设备既可用于有机高分子通用薄膜，也可用于功能薄膜。

图1原位动态吸收光谱仪正在进行样品检测